テクノロジー企業MKS Instrumentsが、赤外線波長のレーザービームを測定する新しいシステムを導入

テクノロジー企業の MKS Instruments は最近、可視および近赤外線範囲で動作する高出力産業用レーザーの焦点オフセット、焦点サイズ、位置を測定するための新しい非接触ビーム プロファイリング システムである Ophir BeamWatch Plus を発表しました。
Image BeamWatch Plus は、レーザー フォトニクスの分野に導入された第 2 世代のシステムで、可視波長 (420-635 ナノメートル) の高出力レーザー、主に緑色レーザーと青色レーザー、および近赤外レーザーを測定できるようになりました。領域 (950-1、100 ナノメートル)。
BeamWatch Plus は、産業用材料加工用途で使用される高出力 YAG、ファイバー、ダイオード レーザーで使用するように設計されており、バッテリーセルの銅溶接やヘアピン溶接など、材料加工や自動車用途での溶接および切断作業に最適です。
このシステムは、ビーム誘起レイリー散乱を利用して連続測定を行います。 これにより、焦点スポット サイズ、ビーム位置、および全ビーム焦点分散を瞬時に読み取ることができるほか、プロセスの開始時に焦点面の位置を動的に測定することもできます。 ビームの測定は、プロセスを停止したり、大規模な工具や固定具を取り外したりすることなく、頻繁な間隔で行われます。
「レーザービームとの接触がないため、BeamWatch Plus には出力制限がありません」と Ophir Photonics のゼネラルマネージャー、Reuven Silverman 氏は述べています。 「これは、出力制限のない高出力レーザーに使用され、最大 100 キロワットまでのテストに成功しています。従来のビーム測定システムはビーム内にプローブを配置するため、潜在的な損傷につながり、データを収集して特性を評価するための測定プロセスが 2 分まで遅くなります。 BeamWatch Plus は、焦点スポット サイズとビーム位置を瞬時に読み取り、プロセスの起動中に焦点面の位置を動的に測定します。」
BeamWatch Plus プロファイリング システムは、45 m 程度のスポット サイズのビームを測定する高倍率光学系を備えています。 BeamWatch Plus は、最小 45 m のスポット サイズのビームを測定することもできます。 これにより、材料の無駄を減らし、より小さく正確な切断が可能になります。 焦点位置を 1 秒間に数回測定して、重要な起動瞬間に焦点のずれがあるかどうかを追跡できます。 このシステムは 2 軸測定を提供し、ユーザーは 2 つの直交する軸からレーザー ビームを確認できます。 測定値は各軸で計算され、レーザーの動作に関する詳細情報が提供されます。 焦点のシフトは両方の軸で追跡でき、測定値を使用してビームの真円度や非点収差の存在を判断できます。
そのソフトウェアは、レーザー レイリー散乱によって生成された画像をリアルタイムで正確に分析します。 計算は、ビームウエストのサイズと位置、焦点オフセット、M2、発散、その他の品質パラメーターで構成されます。 主要なレーザー性能パラメータが事前設定された範囲と比較されて合否の読み取り値が得られるため、レーザー ユーザーはいつ是正措置を講じるべきかを知ることができます。 このソフトウェアには、システム統合のための自動制御インターフェースも含まれています。